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        宏觀斷口分析系統

        簡要描述:宏觀斷口分析系統——利用光學圖像技術將被測金屬斷口將圖像采集到顯示器上,再通過我公司軟件的離析像素技術,對斷口的長度測量、面積測量、及拍照等。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2021-10-29
        • 訪  問  量:550

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        詳細介紹

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        宏觀斷口分析系統——

        金屬斷口分析是研究金屬斷裂面的學科,是斷裂學科的組成部分。金屬破斷后獲得的一對相互匹配的斷裂表面及其外觀形貌。斷口總是發生在金屬組織中薄弱的地方,記錄著有關斷裂全過程的許多珍貴資料,所以在研究斷裂時,對斷口的觀察和研究一直受到重視。

        斷口分析的實驗基礎是對斷口表面的宏觀形貌結構特征進行直接觀察和分析。對斷口進行宏觀觀察。在很多情況下,利用宏觀觀察就可以判定斷裂的性質、起始位置和裂紋擴展路徑。但如果要對斷裂起點附近進行細致研究,分析斷裂原因和斷裂機制,還必須進行微觀觀察。

        宏觀斷口分析系統——

        目前大多數通過體式顯微鏡來對金屬斷口宏觀形貌進行觀察,小試樣斷口可以通過體式顯微鏡進行觀察拍照、分析,可是較大的斷口就無法觀察分析、拍照了,我公司根據用戶需求,研發了一款斷口宏觀形貌分析的,斷口分析測量系統。能夠對大型斷面斷口進行光學采集分析、測量。

        技術參數

        1. 光學系統:機器視覺光源(根據試樣斷口大小選擇不同光源)
        2. 視場范圍:大視場400mm直徑
        3. 操作系統: win10等。
        4. 精度0.01mm
        5. 可對斷口形貌清晰拍照,
        6. 可保存試樣斷口形貌圖片
        7. 計算機自動計算試樣分析結果,可打印試驗報告。
        8. 外型尺寸:600mm×600mm×1500mm(長×寬×高)(具體尺寸以事物為準)
        9. 總功率:200W
        10. 電源:220V
        11. 環境條件:周圍環境無腐蝕介質,無震動,無強電磁場干擾.

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